Análise de radioelementos, a níveis de traços, utilizando espectrometria de massa de íons secundários
Analysis of radioelements by levels of traits using mass spectrometry of secundary ions
A espectrometria de massa de íons secundários (SIMS) permite a detecção rápida de elementos estáveis ou radioativos, bem como o cálculo de seu percentual isotópico. Ademais, essa técnica possibilita a localização de radioisótipos, à níveis de traços, em amostras biológicas. Neste trabalho...