Resumo Introdução A interface implante-pilar protético e a formação dos seus microgaps são aspectos relevantes na transferência das cargas e na resposta biológica, estando ligadas ao sucesso da reabilitação. Objetivo Avaliar microgaps na interface entre a conexão interna do implante do tipo Cone Morse e a superfície do componente protético por meio da microscopia eletrônica de varredura (MEV). Material e método Foram utilizados 20 implantes dentários de tamanho 3,75 × 11,0mm do tipo Cone Morse com seus respectivos pilares protéticos da Singular® (Singular Implants, RN, Brasil). Os munhões retos foram acoplados aos implantes com torque de 32N/cm2 e o conjunto resultante foi emergido em base de Resina Epóxi ES260, para permitir secção longitudinal da amostra. As amostras foram analisadas e os microgaps mensurados no MEV (JEOL JCM-5700, MA, USA), e posteriormente os dados foram analisados. Resultado A média e o desvio padrão dos maiores microgaps foram observados na parte apical do implante nos lados direito e esquerdo, sendo 1,44±2,68 e 1,16±1,49 μm, respectivamente. Os menores microgaps foram na parte superior do implante nos lados direito e esquerdo, sendo 0,60±0,73 e 0,66±0,67 μm, respectivamente. Contudo, no teste de Kruskal-Wallis, não houve diferença estatisticamente significativa entre as regiões dos implantes, tanto para o lado esquerdo (p=0,692) como para o direito (p=0,865). No teste de Mann-Whitney, não houve diferenças estatisticamente significativas entre os lados para as diferentes regiões dos implantes. Conclusão Mesmo com a presença de microgaps na interface implante-pilar protético, estes apresentam tamanho inferior ao que causaria problemas biológicos e mecânicos. As amostras analisadas quanto à sua compatibilidade de encaixe foram satisfatórias.